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            當前位置:首頁產品中心熱銷產品光學顯微鏡SEM3200鎢燈絲掃描電鏡

            鎢燈絲掃描電鏡
            產品簡介:

            SEM3200鎢燈絲掃描電鏡是一款高性能、應用廣泛的通用型鎢燈絲掃描電子顯微鏡。擁有出色的成像質量、可兼容低真空模式、在不同的視場范圍下均可得到高分辨率圖像。
            大景深,成像富有立體感。豐富的擴展性,助您在顯微成像的世界中盡情探索。

            產品型號:SEM3200

            更新時間:2024-11-19

            廠商性質:代理商

            訪問量:1688

            服務熱線

            4006981718

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            產品分類

            PRODUCT CLASSIFICATION
            產品介紹

            SEM3200鎢燈絲掃描電鏡是一款高性能、應用廣泛的通用型鎢燈絲掃描電子顯微鏡。擁有出色的成像質量、可兼容低真空模式、在不同的視場范圍下均可得到高分辨率圖像。
            大景深,成像富有立體感。豐富的擴展性,助您在顯微成像的世界中盡情探索。


            豐富的擴展性

            SE\BSE\EDS\EBSD等

            光學導航

            可快速定位目標樣品和感興趣區域

            *大圖拼接

            可實現全自動的采圖和拼接,展示超大視野畫面

            圖像混合成像(SE+BSE)

            在一個圖像中觀察到樣品的成分和表面信息

            *雙陽極結構

            雙陽極結構設計,提升了低電壓下的分辨率和成像質量

            *低真空模式

            在低真空下提供樣品表面細節和形貌,軟件一鍵切換真空狀態

            鎢燈絲掃描電鏡產品特點(*為選配件)

             低電壓

            碳材料樣品,低電壓下,穿透深度較小,可以獲取樣品表面真實形貌,細節更豐富。

            低電壓-碳高電壓-碳

            毛發樣品,在低電壓下,電子束輻照損傷減小,同時消除了荷電效應。

            低電壓-毛發高電壓-毛發

             低真空

            過濾纖維管材料,導電性差,在高真空下荷電明顯,在低真空下,無需鍍膜即可實現對不導電樣品的直接觀察。

            低真空高真空

             大視場

            生物樣品,采用大視場觀察,能夠輕松獲得瓢蟲整體形貌及頭部結構細節,展現跨尺度分析。

            低電壓-毛發高電壓-毛發

             導航&防碰撞

            光學導航

            想看哪里點哪里,導航更輕松
            標配倉內攝像頭,可拍攝高清樣品臺照片,快速定位樣品。

            光學導航
            手勢快捷導航

            可通過雙擊移動、鼠標中鍵拖動、框選放大,進行快捷導航
            如框選放大:在低倍導航下,獲得樣品的大視野情況,可快速框選您感興趣的樣品區域,提高工作效率。

            手勢快捷導航手勢快捷導航
            防碰撞技術

            采取多維度的防碰撞方案:
            1. 手動輸入樣品高度,精準控制樣品與物鏡下端距離,防止發生碰撞;
            2. 基于圖像識別和動態捕捉技術,運動過程中對倉內的畫面進行實時監測;
            3. 硬件防碰撞,可在碰撞一瞬間停止電機,減少碰撞損傷。(*SEM3200A需選配此功能)

            防碰撞技術

             特色功能

            智能輔助消像散

            直觀反映整個視野的像散程度,通過鼠標點擊清晰處,可快速調節像散至最佳。

            智能輔助消像散操作圖智能輔助消像散結果圖
            自動聚焦

            一鍵聚焦,快速成像。

            自動聚焦操作圖自動聚焦結果圖
            自動消像散

            一鍵消像散,提高工作效率。

            自動消像散操作圖自動消像散結果圖
            自動亮度對比度

            一鍵自動亮度對比度,調出灰度合適圖像。

            自動亮度對比操作圖自動亮度對比結果圖
            多種信息同時成像

            SEM3200軟件支持一鍵切換SE和BSE的混合成像。可同時觀察到樣品的形貌信息和
            成分信息。

            多種信息同時成像BSE多種信息同時成像SE
            多種信息同時成像BSE+SE
            快速圖像旋轉

            拖動一條線,圖像立刻“擺正角度"。

            快速圖像旋轉操作圖快速圖像旋轉結果圖

             豐富拓展性

            掃描電子顯微鏡不僅局限于表面形貌的觀察,更可以進行樣品表面的微區成分分析。
            SEM3200接口豐富,除支持常規的二次電子探測器(ETD)、背散射電子探測器(BSED)、X射線能譜儀(EDS)外,也預留了諸多接口,如電子背散射衍射(EBSD)、陰極射線(CL)等探測器都可以在SEM3200上進行集成。

            背散射電子探測器
            二次電子成像和背散射電子成像對比

            背散射電子成像模式下,荷電效應明顯減弱,并且可以獲得樣品表面更多的成分信息。

            鍍層樣品:

            鍍層樣品SE鍍層樣品BSE

            鎢鋼合金樣品:

            鎢鋼合金樣品SE鎢鋼合金樣品BSE
            四分割背散射電子探測器——多通道成像

            探測器設計精巧,靈敏度高,采用4分割設計,無需傾斜樣品,可獲得不同方向的陰影像以及成分分布圖像。

            四個單通道的陰影像

            成分像

            能譜

            LED小燈珠能譜面分析結果。 

            電子背散射衍射

            鎢燈絲電鏡束流大,高分辨EBSD的測試需求,能夠對金屬、陶瓷、礦物等多晶材料進行晶體取向標定以及晶粒度大小等分析。
            該圖為Ni金屬標樣的EBSD反極圖,能夠識別晶粒大小和取向,判斷晶界和孿晶,對材料組織結構進行精確判斷。


            應用案例

            普通芯片-1

            普通芯片-1

            普通芯片-2

            普通芯片-2

            負極-碳

            負極-碳

            負極-碳包硅

            負極-碳包硅

            正極-鈷酸鋰

            正極-鈷酸鋰

            正極-錳酸鋰

            正極-錳酸鋰

            太陽能電池-1

            太陽能電池-1

            太陽能電池-2

            太陽能電池-2

            高分子泡沫

            高分子泡沫

            催化劑-MOF材料

            催化劑-MOF材料

            2A12鋁合金析出相

            2A12鋁合金析出相

            Mg-Zn合金化合物層

            Mg-Zn合金化合物層

            不銹鋼-黃銅焊接件

            不銹鋼-黃銅焊接件

            鈦合金基體組織

            鈦合金基體組織

            合金斷口脆性+韌性

            合金斷口脆性+韌性

            韌性斷口

            韌性斷口

            鋼鐵夾雜物BSE

            鋼鐵夾雜物BSE

            鋼鐵夾雜物SE

            鋼鐵夾雜物SE

            硅藻-1

            硅藻-1

            硅藻-2

            硅藻-2

            雞葡萄球菌-1

            雞葡萄球菌-1

            雞葡萄球菌-2

            雞葡萄球菌-2

            大米

            大米

            糯米淀粉顆粒-1

            糯米淀粉顆粒-1

            糯米淀粉顆粒-2

            糯米淀粉顆粒-2

            受潮鹽顆粒

            受潮鹽顆粒

            粉體-鈦酸鋇

            粉體-鈦酸鋇

            粉體-硫酸鎂

            粉體

            粉體-氧化鋁

            粉體-氧化鋁

            過濾功能材料

            過濾功能材料

            巖石

            巖石

            納米材料-二氧化硅微球

            納米材料-二氧化硅微球

            SiC陶瓷BSE

            SiC陶瓷BSE

            SiC陶瓷SE

            SiC陶瓷SE

            陶瓷復合材料

            陶瓷復合材料

            產品參數

            型號SEM3200ASEM3200
            電子光學系統電子槍類型預對中型發叉式鎢燈絲電子槍
            分辨率高真空3 nm @ 30 kV(SE)
            4 nm @ 30 kV(BSE)
            8 nm @ 3 kV(SE)
            *低真空3 nm @ 30 kV(SE)
            放大倍率1-300,000x(底片倍率)
            1-1000,000x(屏幕倍)
            加速電壓0.2 kV~30 kV
            成像系統探測器二次電子探測器(ETD)
            *背散射電子探測器、*低真空二次電子探測器、*能譜儀EDS等
            圖像保存格式TIFF、JPG、BMP、PNG
            真空系統真空模式高真空優于5×10-4 Pa
            *低真空5~1000 Pa
            控制方式全自動控制
            樣品室攝像頭光學導航
            樣品倉內監控
            樣品臺配置三軸自動五軸自動
            行程X: 120 mmX: 120 mm
            Y: 115 mmY: 115 mm
            Z: 50 mmZ: 50 mm
            /R: 360°
            /T: -10°~ +90°
            軟件語言中文
            操作系統Windows
            導航光學導航、手勢快速導航
            自動功能自動亮度對比度、自動聚焦、自動像散
            特色功能智能輔助消像散、*大圖拼接(選配軟件)
            安裝要求房間長 ≥ 3000 mm,寬 ≥ 4000 mm,高 ≥ 2300 mm
            溫度20 ℃~25 ℃
            濕度≤ 50 %
            電氣參數電源AC 220 V(±10 %),50 Hz,2 kVA
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