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            當前位置:首頁產品中心實驗室儀器F32薄膜厚度測量儀

            薄膜厚度測量儀
            產品簡介:

            薄膜厚度測量儀:使用F32可以簡單快速地在線測量膜厚。從對膜的頂部和底部反射光譜進行分析可得到實時厚度信息。

            產品型號:F32

            更新時間:2024-11-20

            廠商性質:代理商

            訪問量:557

            服務熱線

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            產品介紹

            薄膜厚度測量儀在線測量的解決方案

            使用F32可以簡單快速地在線測量膜厚。從對膜的頂部和底部反射光譜進行分析可得到實時厚度信息。

            F32的光譜分析系統采用半寬的3U rack-mount底盤,加上附加的分光計,可達到四個不同的位置(EXR和UVX版本兩個位置)。F32軟件可以通過數字I/O或主機軟件來控制啟動/停止/復位測量。測量數據可以自動導出到主機軟件中進行統計過程控制。Filmetrics還提供可選的透鏡組件,以便于集成到現有的生產裝置上。

            包含的軟件和USB連接使得在任何windows平臺上安裝F32很簡單。在測量軟件的幫助下,它預裝了100多種材料,使得單層和多層薄膜的測量很容易實現。通過測量樣品的光學常數或從現有的來源輸入數據,可以快速添加新材料。

            薄膜厚度測量儀附加特性

            •             嵌入式在線診斷方式

            •             免費離線分析軟件

            •             精細的歷史數據功能,幫助用戶有效地存儲,重現與繪制測試結果


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